元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬??焖俑叩蜏叵到y(tǒng)熱流儀chiller故障處理方法
更新時間:2025-01-12
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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更新時間:2025-01-12
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